高性能FIB-SEM系統 Ethos NX5000 參考價：面議
高性能與高靈活性兼備Ethos采用日立高新的核心技術--的高亮度冷場發射電子槍及新研發的電磁復合透鏡，不但可以在低加速電壓下實現高分辨觀察，還可以在FIB加工時...
FIB-SEM三束系統 NX2000 參考價：面議
追求的TEM樣品制備工具 在設備及高性能納米材料的評價和分析領域，FIB-SEM已成為的工具。近來，目標觀察物更趨微細化；更薄，更低損傷樣品的制備需求更進一步凸...
高性能聚焦離子束系統 MI4050 參考價：面議
MI4050是具有以下特征的高性能聚焦離子束系統：新型電子光學系統，可達到高水準的SIM像分辨率?大束流使加工速度得以提升?提高了低加速電壓的分辨率，使得高品質...
微型采樣系統 參考價：面議
優異的高效分析性能微型采樣方法(已在日本和美國取得)已在半導體器件分析領域成為一款工具，它正迅速向更小制樣方向發展。僅用一小時左右即可獲得一個微小樣品，以便于S...
CAD導航系統 故障分析導航系統 (NASFA) 參考價：面議
該導航系統可以將CAD數據的布線和大規模集成電路的設計圖形和FIB的觀察圖像相對應起來。當指定CAD系統中的坐標位置，樣品臺就會通過鏈接移動到相應位置，就可以獲...
高精度實時三維分析FIB-SEM三束系統 NX9000 參考價：面議
追求理想的三維結構分析通過自動重復使用FIB制備截面和進行SEM觀察，采集一系列連續截面圖像，并重構特定微區的三維結構。采用的鏡筒布局，從材料、設備到生物組織在...
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